فایل ورد کامل پژوهش مبانی نظری دستگاه اندازه‌گیری مختصات CMM؛ تحلیل فناوری‌های اندازه‌گیری دقیق در مهندسی پیشرفته

توجه : به همراه فایل word این محصول فایل پاورپوینت (PowerPoint) و اسلاید های آن به صورت هدیه ارائه خواهد شد

 فایل ورد کامل پژوهش مبانی نظری دستگاه اندازه‌گیری مختصات CMM؛ تحلیل فناوری‌های اندازه‌گیری دقیق در مهندسی پیشرفته دارای ۱۵۳ صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد فایل ورد کامل پژوهش مبانی نظری دستگاه اندازه‌گیری مختصات CMM؛ تحلیل فناوری‌های اندازه‌گیری دقیق در مهندسی پیشرفته  کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه  و مراکز دولتی می باشد.

این پروژه توسط مرکز فایل ورد کامل پژوهش مبانی نظری دستگاه اندازه‌گیری مختصات CMM؛ تحلیل فناوری‌های اندازه‌گیری دقیق در مهندسی پیشرفته۲ ارائه میگردد

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی فایل ورد کامل پژوهش مبانی نظری دستگاه اندازه‌گیری مختصات CMM؛ تحلیل فناوری‌های اندازه‌گیری دقیق در مهندسی پیشرفته،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

بخشی از متن فایل ورد کامل پژوهش مبانی نظری دستگاه اندازه‌گیری مختصات CMM؛ تحلیل فناوری‌های اندازه‌گیری دقیق در مهندسی پیشرفته :

دسته: تحقیقات مکانیکی

عنوان کامل: بررسی دستگاه اندازه گیری مختصات و کاربرد آن در فناوری نانو

فرمت فایل: WORD (قابل ویرایش)

تعداد صفحات :۱۵۳

بخشی از مقدمه:
امروزه ارقام حاصل از اندازهگیری به عناوین مختلف و بیشتر از گذشته مورد استفاده قرار می گیرد . بنابراین کیفیت ارقام حاصله از اندازهگیری بطور مستقیم به اندازهگیری هایی بستگی دارد که از سیستم های اندازهگیری ( ابزار دقیق ) گرفته می شود . اندازهگیری فرایند مقایسهای یک کمیت بین یک استاندارد تعریف شده و یک مقدار مجهول می باشد . در عصر شتاب در پیشرفت علمی ، استاندارد خدمات ، تولید و گسترش روشهای تولید ، روشهای اندازهگیری نیز گسترش در خور توجهی نمودهاند . روشهای اندازهگیری سه بعدی یکی از مهمترین روش های اندازهگیری می باشند . دستگاه های اندازهگیری مختصات (CMM) برای اندازهگیری سه بعدی قطعات و یا هر چیزی که اندازه های آن با پارامترهایی مانند توازی ، تعامد ، زاویه ، ابعاد و … در آن باید بصورت سه بعدی اندازهگیری شوند در صنایع مختلفی نظیر خودرو سازی ، ماشین سازی، هوا فضا و مخصوصا علم نوین نانو کاربرد وسیعی دارند . در این مقاله سعی بر این است که درک صحیحی از عملکرد ، تاریخچه ، بخش های مختلف یک سی.ام.ام ، شرایط محیطی و کالیبراسیون یک دستگاه سی.ام.ام و اصول استفاده از آنها در مقیاس نانو ارائه گردد .

فصل اول : مقدمه
۱-۱- اندازه گیری
۱-۲- نیاز به اندازه گیری
فصل دوم : دستگاه اندازه گیری مختصات ( cmm )
۲-۱- مقدمه
۲-۲- تاریخچه
۲-۳- اجزای تشکیل دهنده cmm
۲-۳-۱- سازه مکانیکی
۲-۳-۲- نرم افزار cmm
۲-۳-۳- پرابها
۲-۴- کالیبراسیون
۲-۵- شرایط محیطی
فصل سوم : مقدمه ای بر فناوری نانو
۳-۱- مقدمه
۳-۲- تعریف
۳-۳- تاریخچه فناوری نانو
۳-۴- روشهای ساخت نانو مواد
۳-۴-۱- فرآوری مکانیکی
۳-۴-۱-۱- آسیاب های مکانیکی
۳-۴-۱-۱-۱- آلیاژ سازی مکانیکی
۳-۴-۱-۱-۲- عوامل موثر در آسیاب مکانیکی
۳-۴-۱-۱-۳- آسیاب های گلوله ای با انرژی زیاد
۳-۴-۱-۱-۴- آسیاب های گلوله ای سیاره ای
۳-۴-۱-۱-۵- آسیاب های گلوله ای لرزشی
۳-۴-۱-۱-۶- تصادم گلوله – پودر – گلوله
۳-۴-۲- الکترو ریسندگی
۳-۴-۳- قوس الکتریکی
۳-۴-۳-۱- روش کار
۳-۴-۴- رسوب دهی فاز بخار
۳-۴-۴-۱- رسوب دهی شیمیایی بخار
۳-۴-۴-۲- رسوب دهی فیزیکی بخار
۳-۴-۵- پاشش حرارتی
۳-۴-۶- روش سل ژل
۳-۵- مهمترین کاربردها
۳-۵-۱- کاربرد در خودروسازی
فصل چهارم : روش های اندازه گیری نانو مواد
۴-۱- تاریخچه
۴-۲- اسپکتروسکوپی الکترون اوژه
۴-۳- پراش اشعه ایکس
۴-۴- آنالیز بر مبنای یون
۴-۵- طیف سنج رامان
۴-۵-۱- اصول کار
۴-۵-۲- ساختمان دستگاه
۴-۵-۳- کاربردها
۴-۶- طیف سنجی جرمی
۴-۷- سیستم باریکه یونی
۴-۷-۱- اصول کار
۴-۷-۲- کاربردها
۴-۸- دستگاه طیف سنجی مادون قرمز
۴-۹- رزونانس مغناطیسی هسته
۴-۱۰- پراکندگی بازگشتی رادرفورد
۴-۱۰-۱- اصول فیزیکی
۴-۱۰-۲- تجهیزات مورد استفاده
۴-۱۰-۳- مزایا و معایب
۴-۱۰-۴- کاربردها
۴-۱۱- طیف‌سنجی تبدیل فوریه مادون قرمز
۴-۱۱-۱- تئوری
۴-۱۱-۲- تجزیه کیفی
۴-۱۱-۳- کاربردها
۴-۱۲- طیف نگاری الکترونی برای آنالیز شیمیایی
۴-۱۲-۱- کاربردها
۴-۱۲-۲- نمونه ها
۴-۱۲-۳- محدودیت ها
۴-۱۲-۴- مدت زمان آنالیز
۴-۱۳- میکروسکوپ الکترونی عبوری
۴-۱۴- میکروسکوپ الکترونی روبشی
۴-۱۵- میکروسکوپ الکترونی روبشی محیطی
فصل پنجم : نانو cmm ها
۵-۱- مقدمه
۵-۲- میکروسکوپ نوری میدان نزدیک روبشی
۵-۳- میکروسکوپ روبشی تونلی
۵-۳-۱- مقدمه
۵-۳-۲- نگاهی اجمالی بر عملکرد میکروسکوپ روبشی تونلی
۵-۳-۳- روش های مبتنی بر استفاده مستقیم از STM در تعیین مشخصات سطوح
۵-۳-۳-۱- مد جریان ثابت
۵-۳-۳-۲- مد ارتفاع ثابت
۵-۳-۳-۳- مد نقشه برداری از تابع کار سطح
۵-۳-۳-۴- تعیین نقشه چگالی حالات الکترونها
۵-۳-۳-۵- مد سنجش نقشه ترازهای انرژی ارتعاشی الکترونها
۵-۴- میکروسکوپ نیروی اتمی
۵-۴-۱- مقدمه
۵-۴-۲- نحوه عملکرد
۵-۴-۳- آشکار سازی جهت گیری تیرک
۵-۴-۴- هندسه تیرک
۵-۴-۵- سوزن ها
۵-۴-۶- نحوه برهمکنش سوزن با سطح
۵-۴-۷- مدهای مختلف AFM
۵-۴-۷-۱- مدهای تماسی
۵-۴-۷-۱-۱- مد نیرو ثابت
۵-۴-۷-۱-۲- مد ارتفاع ثابت
۵-۴-۷-۲- روش های شبه تماسی
۵-۴-۷-۲-۱- مد دامنه ثابت
۵-۴-۷-۲-۲- مد تصویر برداری از اختلاف فاز
۵-۴-۸- کاربردها
۵-۴-۸-۱- مطالعه فرآیندهای اصطکاکی و تحول ادوات تحت اصطکاک در ابعاد نانومتر
۵-۴-۸-۲- متالوژی و خوردگی فلزات
۵-۴-۸-۳- غشاها و فیلتر ها
۵-۴-۸-۴- کنترل کیفیت و بررسی میزان نقصهای سطحی در واحدهای حافظه مغناطیسی
۵-۵- نانو CMM
۵-۵-۱- مقدمه
۵-۵-۲- ایده های اولیه
۵-۵-۳- فاکتور های مختلف ماشین NANO CMM
۵-۵-۴- ویژگیهای ماشین نانو CMM
۵-۵-۴-۱- مقیاس
۵-۵-۴-۲- محرک
۵-۵-۴-۳- میز
۵-۵-۴-۴- نانو پراب
۵-۵-۴-۴-۱- پراب NPL
۵-۵-۴-۴-۲- پراب فنر سه برگی
۵-۵-۴-۴-۳- پراب PTB
۵-۵-۴-۴-۴- پراب METAS
۵-۵-۴-۴-۵- پراب فیبر نوری PTB
۵-۵-۴-۴-۶- پراب فیبر نوری MITUTOYO
۵-۵-۴-۵- مواد بکار برده شده
۵-۵-۵- پیشرفت های صورت گرفته در زمینه نانو CMM ها
۵-۵-۵-۱- نانو CMM موازی با مکانیزم سه درجه آزادی
۵-۵-۵-۲- استفاده از مفاصل مغناطیسی کروی
۵-۵-۵-۳- توسعه سیستم نانو پراب در دانشگاه توکیو
۵-۵-۶- آنالیز و تحلیل اجزای ماشین نانو CMM
۵-۵-۶-۱- ساختمان ماشین
۵-۵-۶-۱-۱- آنالیز تنش
۵-۵-۶-۱-۲- آنالیز رسانش گرمایی
۵-۵-۶-۱-۳- آنالیز دفرمه شدن گرمایی
۵-۵-۶-۲- آنالیز سوزن پراب تماسی
۵-۵-۶-۲-۱- بررسی میزان جابجایی در اثر نیرو
۵-۵-۶-۲-۲- آنالیز توزیع تنش در نوک سوزن در اثر نیروی ماکزیمم
۵-۵-۶-۲-۳- بررسی تغییر شکل پلاستیک پس از برداشتن بار
۵-۵-۷- نتایج و پیشنهادات
پیوست : تصاویر ، نمودارها و جداول
۱- تصاویر مربوط به فصل دوم
۲- تصاویر مربوط به فصل چهارم
۳- تصاویر مربوط به فصل پنجم
مراجع
۱- مراجع فارسی
۲- اینترنت
۳- مراجع لاتین